Main issues and limitations in Power cycling tests for future integrated power converters English

  • Category Technical paper
  • Edition SIA
  • Date 04/03/2013
  • Author Z. Khatir - IFSTTAR
  • Language English
  • Type PDF file (463.32 Ko)
    (Downloadable immediately on receipt of online payment)
  • Number of pages 6
  • Code R-2013-01-35
  • Fee from 8.00 € to 10.00 €

The paper describes accelerated DC and PWM power cycling tests. It presents basic principle of such ageing tests. The required conditions for accelerated testing are discussed and the lifetime prediction method with the main usual difficulties for such ageing tests is detailed. It also focuses on problems caused by introduction of wide band gap power chips in power modules due to the higher operating temperature and power density that are allowed by these devices.

Order

Conference proceedings and magazines are sent by post contrary to the PDF files, which can be downloaded as soon as the payment is completed.
They can't be ordered in the same shopping cart.

Select your fee

INGENIEURS DE L'AUTO SE DIGITALISE

 

 

La revue Ingénieurs de l’Auto est maintenant diffusée en print et on line. Une grande première pour la SIA avec ce numéro 865, disponible au format numérique.

Cette version digitale sera, à chaque numéro, réservée aux membres de la SIA abonnés.

Exceptionnellement pour ce premier numéro on line, et en lien avec la situation de confinement et de télétravail de beaucoup d’ingénieurs de notre industrie, la version digitale du numéro de Mai est accessible à tous.

 

DÉCOUVRIR LA REVUE