LA SECURITE ET LA FIABILITÉ DES SYSTEMES ÉLECTRONIQUES FACE AUX RUPTURES TECHNOLOGIQUES EXIGÉES PAR LA GENERATION
DES VEHICULES DECARBONÉS
ELECTRONIC SYSTEMS SAFETY AND RELIABILITY FACING THE
TECHNOLOGICAL BREAKS ASKED BY LOW EMISSION VEHICLES
17 Juin 2010
June 17, 2010
UTC Compiègne
english version below
L’électronique automobile est confrontée à un double challenge :
• maitriser les innovations technologiques des véhicules à faible ou zéro émission de la prochaine génération,
• savoir construire et démontrer la sécurité et la fiabilité des systèmes électroniques embarqués. La maitrise de la sécurité va s'appuyer sur la future norme ISO 26 262. Il faut également évaluer la fiabilité des systèmes électroniques du futur qui font appel à des technologies pour lesquelles le retour d’expérience n’est pas comparable aux retours des technologies matures.
L’électronique de puissance embarquée, les nouveaux systèmes de stockage d’énergie, les nouvelles technologies d’assemblage, l’intégration de composants et de systèmes complets dans un seul circuit intégré en sont des exemples typiques. Les architectures électroniques évoluent et innovent à leur tour en répartissant des fonctions de plus en plus complexes sur plusieurs calculateurs et/ou sur des composants non dédiés.
Cette Journée d’Etude a pour ambition d’échanger sur la maitrise de leur fiabilité et sécurité. Comment les évaluer, les valider et les justifier?
Automotive electronics is facing a double challenge:
• Managing emerging technologies for low or zero emission vehicles of the next generation,
• Knowing how to design and demonstrate the safety and the electronic reliability of embedded systems: ensuring functional safety is going to rely on the future ISO 26 262 standard. It is also necessary to estimate the reliability of future electronic systems that will use technologies without experience feedback comparable to returns of mature technologies.
Embedded electronics power, new energy storage systems, new assembly technologies, components integration and complete systems in a single integrated circuit are typical examples. Electronic architectures evolve and innovate by distributing more and more complex functions on several ECUs andor on not dedicated components.
This conference has for ambition to exchange on the mastery of their reliability and safety. How to estimate, to validate and to justify them?
